NI推出业界最高精度的PXI源测量单元
时间:2019-01-12 21:17:49 来源:安琪资讯网 作者:匿名


2016年7月11日 - 美国国家仪器公司(National Instruments,NI)为工程师和科学家提供解决方案,为应对全球最棘手的工程挑战提供解决方案。最近宣布了NI PXIe-4135源测量。该单元(SMU)的测量灵敏度为10 fA,输出电压高达200V。工程师可以使用NI PXIe-4135 SMU测量低电流信号,并利用NI PXI SMU的高通道密度,高速测试吞吐量和灵活性进行晶圆级参数测试,材料研究以及低电流传感器和集成电路分析等各种功能作为功??能。

“我们的顺序参数测试需要收集数百万个数据点,并且电流泄漏通常处于pA水平,”IMEC研究员Bart De Wachter博士说,“这得益于PXI平台提供的高速度和灵活性。 LabVIEW的系统编程。同时,新的NI PXI SMU可帮助我们准确测量低电流信号。“

模块化NI PXI SMU可帮助工程师构建紧凑,并行,高通道数的系统,在单个PXI机箱中提供多达68个SMU通道,并可扩展到数百个通道,以满足晶圆级可靠性和并行测试需求。此外,用户可以使用高速通信总线,确定性硬件序列生成和数字控制环路技术来定制任何被测设备的SMU响应,从而提高测试吞吐量。工程师还可以通过软件控制SMU响应,避免长时间等待SMU稳定性,并且可以通过NI PXI SMU的灵活性最小化过冲和振荡,即使在高容性负载下也是如此。

“半导体器件复杂性的增加要求我们重新考虑传统的研究,表征和晶圆可靠性测量方法,这是我们投资PXI SMU的关键驱动因素,”NI自动化测试总监Luke Schreier说。 “NI SMU减少了。测量时间增加了通道密度,现在提供更好的测量质量和高达10 fA的灵敏度。”NI PXI SMU不仅提供了桌面SMU的易用性,而且其交互式软件前面板也可用于基本测量和调试自动化应用。该驱动程序包括帮助文件,文档描述和可立即运行的示例程序,以帮助进行测试代码开发,并包含一个编程接口,以支持各种开发环境,如C,Microsoft .NET和LabVIEW系统设计软件。工程师还可以将NI PXI SMU与NI TestStand测试管理软件结合使用,以简化实验室或生产车间的测试系统开发和部署。

阅读本技术白皮书,了解如何使用NI SMU降低测试成本并构建更智能的测试系统,或单击

了解如何使用PXI源测量单元满足各种应用需求。

关于NI

自1976年以来,NI一直致力于提供各种功能强大的基于平台的系统,帮助工程师和科学家提高效率,加速创新,以应对全球面临的主要工程挑战。从医疗,汽车,消费电子产品到包括粒子物理在内的各种行业的客户,都在使用NI的集成硬件和软件平台来改善我们所处的环境。

自1998年成立以来,NI中国一直致力于通过跨国公司的力量为本地用户提供创新,高效的工具和解决方案。全国范围的销售,技术人员和系统联盟网络致力于为当地市场提供优质服务,并致力于满足客户的要求。 NI China Online Mall的推出进一步补充了NI的服务系统,为用户提供更方便,更快捷的购物体验。即时浏览:china.ni.com/howtobuy

新华网